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供应铜箔测厚仪 CM95 铜厚度检测仪 铜厚度测试 牛津铜厚度测试仪
发布时间:08月15日
详细说明
CM95便携式铜箔测厚仪
牛津仪器测厚仪器部(OICM)推出了新产品:CM95——一款为测试铜箔厚度设计的电池供电的手持式测厚仪,它能够在一秒钟之内测量印刷电路板上的铜箔厚度,范围从1/8到4.0盎司/平方英尺(5-140微米)。
CM95产品由工厂调校,不需要任何标准片。它使用方便,只需将产品独有的软探针放到铜箔的表面就可以看到关于铜箔厚度的指示。
牛津仪器测厚仪器部(OICM)作为牛津仪器分析仪器部的一个组成部分,提供全球范围内的支持和服务网络。和我们的所有产品一样,CM95在售前和售后都能够得到我们的优质服务的保证。
应用
测试在硬板,柔性板,单层或多层线路板表面的铜箔厚度
测试铜箔基材的厚度
行业
铜箔供应商
PCB基材供应商
PCB板制造商
技术参数
一秒之内测量铜箔厚度
消除高废料和返工造成的浪费——快速精确地识别特定铜箔厚度
唯一现有的能测量全范围铜箔厚度的经济实用的便携式测厚仪
消除板材的磨损——新的CM95有一个独特的软探针防止铜表面被擦伤或损毁
耐久性强,使用方便
工厂调校,不需要标准片
低电量警告
CE认证
公司商业信息
供应镀层测厚仪COMPACT Eco系列,COMPACT Eco 供应SRP-4面铜探针,面铜探针,牛津探针,测厚仪探针,进口探针供应ETP孔铜探头,孔铜探头,牛津探头,探头,进口探头,测厚仪探头供应涂层测厚仪 CMI153 镀层测厚仪 涂镀层测厚仪 牛津测厚仪供应SRP-T1面铜探头,牛津探头,测厚仪探头,进口探头,探头供应镀层测厚仪X-Strata920系列,电镀膜测厚仪,X射线荧光测厚仪供应孔铜测厚仪 CMI511 面铜测厚仪 铜厚度测量仪 膜厚仪供应RoHS及元素分析 金属合金分析仪 合金分析仪 进口合金分析仪供应镀层测厚仪CMI900系列,X射线荧光测厚仪,X荧光测厚仪,供应SRP-4面铜探头,面铜探头,牛津探头,测厚仪探头,探头供应镀层测厚仪MAXXI系列,X-Ray测厚仪,膜厚仪 供应标准片 牛津标准片 进口标准片 测厚仪标准片 膜厚仪标准片供应面铜测厚仪 CMI563 孔面铜测厚仪 铜厚度测试仪 铜厚度检测供应面铜测厚仪 CMI165 孔面铜测厚仪 牛津测厚仪 膜厚仪供应涂层测厚仪 CMI243 镀层测厚仪 牛津测厚仪 进口测厚仪供应孔面铜测厚仪 CMI760 线路板测厚仪 膜厚仪供应涂层测厚仪 CMI233 镀层测厚仪 涂镀层测厚仪 牛津测厚仪供应涂层测厚仪 CMI730 深圳镀层膜厚仪 电镀膜厚测试仪供应铜箔测厚仪 CM95 铜厚度检测仪 铜厚度测试 牛津铜厚度测试仪
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