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供应镀层测厚仪CMI900系列,X射线荧光测厚仪,X荧光测厚仪,
发布时间:08月15日
详细说明
应用
CMI900X射线荧光镀层测厚仪,有着非破坏,非接触,多层合金测量,高生产力,高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量 ,从质
量管理到成本节约有着广泛的应用。
行业
用于电子元器件,半导体,PCB,LED支架,五金电镀,连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量。
技术参数
主要规格 规格描述
X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
功率:50W(4-50kV,0-1.0mA)-标准
75W(4-50kV,0-1.5mA)-任选
装备有安全防射线光闸
二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
公司商业信息
供应面铜测厚仪 CMI165 孔面铜测厚仪 牛津测厚仪 膜厚仪供应标准片 牛津标准片 进口标准片 测厚仪标准片 膜厚仪标准片供应孔面铜测厚仪 CMI760 线路板测厚仪 膜厚仪供应涂层测厚仪 CMI233 镀层测厚仪 涂镀层测厚仪 牛津测厚仪供应涂层测厚仪 CMI153 镀层测厚仪 涂镀层测厚仪 牛津测厚仪供应镀层测厚仪MAXXI系列,X-Ray测厚仪,膜厚仪 供应面铜测厚仪 CMI563 孔面铜测厚仪 铜厚度测试仪 铜厚度检测供应ETP孔铜探头,孔铜探头,牛津探头,探头,进口探头,测厚仪探头供应SRP-T1面铜探头,牛津探头,测厚仪探头,进口探头,探头供应铜箔测厚仪 CM95 铜厚度检测仪 铜厚度测试 牛津铜厚度测试仪供应SRP-4面铜探头,面铜探头,牛津探头,测厚仪探头,探头供应镀层测厚仪COMPACT Eco系列,COMPACT Eco 供应RoHS及元素分析 金属合金分析仪 合金分析仪 进口合金分析仪供应镀层测厚仪X-Strata920系列,电镀膜测厚仪,X射线荧光测厚仪供应镀层测厚仪CMI900系列,X射线荧光测厚仪,X荧光测厚仪,供应孔铜测厚仪 CMI511 面铜测厚仪 铜厚度测量仪 膜厚仪供应涂层测厚仪 CMI730 深圳镀层膜厚仪 电镀膜厚测试仪供应SRP-4面铜探针,面铜探针,牛津探针,测厚仪探针,进口探针供应涂层测厚仪 CMI243 镀层测厚仪 牛津测厚仪 进口测厚仪
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