
供应孔面铜测厚仪 CMI760 线路板测厚仪 膜厚仪
发布时间:08月15日
详细说明
孔、面铜测厚仪 CMI700系列
CMI760是CMI700系列专为满足印刷电路板行业铜厚测量和质量控制的需求而设计;采用微电阻和电涡流方式测量表面铜和孔内镀铜厚度。具有多功能性、高扩展性和先进的统计功能,统计功能用于数据整理分析。
型号
CMI760
CMI760E
备注
名称
台式面铜测厚仪
台式孔、面铜测厚仪
标配
l 700 SERIES主机及证书
l SRP-4面铜探头(内含SRP-4探针)
l NIST认证的面铜标准片及证书
l 700 SERIES主机及证书
l SRP-4面铜探头(内含SRP-4探针)
l NIST认证的面铜标准片及证书
l ETP孔铜探头
l NIST认证的ETP标准片及证书
SRP-4探针又称水晶头
选配
l SRG软件:数据不可编辑
l SRGD软件:带数据库
公司商业信息
供应面铜测厚仪 CMI563 孔面铜测厚仪 铜厚度测试仪 铜厚度检测供应SRP-T1面铜探头,牛津探头,测厚仪探头,进口探头,探头供应面铜测厚仪 CMI165 孔面铜测厚仪 牛津测厚仪 膜厚仪供应镀层测厚仪X-Strata920系列,电镀膜测厚仪,X射线荧光测厚仪供应SRP-4面铜探针,面铜探针,牛津探针,测厚仪探针,进口探针供应镀层测厚仪MAXXI系列,X-Ray测厚仪,膜厚仪 供应孔铜测厚仪 CMI511 面铜测厚仪 铜厚度测量仪 膜厚仪供应ETP孔铜探头,孔铜探头,牛津探头,探头,进口探头,测厚仪探头供应涂层测厚仪 CMI243 镀层测厚仪 牛津测厚仪 进口测厚仪供应孔面铜测厚仪 CMI760 线路板测厚仪 膜厚仪供应RoHS及元素分析 金属合金分析仪 合金分析仪 进口合金分析仪供应涂层测厚仪 CMI233 镀层测厚仪 涂镀层测厚仪 牛津测厚仪供应涂层测厚仪 CMI730 深圳镀层膜厚仪 电镀膜厚测试仪供应标准片 牛津标准片 进口标准片 测厚仪标准片 膜厚仪标准片供应镀层测厚仪CMI900系列,X射线荧光测厚仪,X荧光测厚仪,供应铜箔测厚仪 CM95 铜厚度检测仪 铜厚度测试 牛津铜厚度测试仪供应SRP-4面铜探头,面铜探头,牛津探头,测厚仪探头,探头供应涂层测厚仪 CMI153 镀层测厚仪 涂镀层测厚仪 牛津测厚仪供应镀层测厚仪COMPACT Eco系列,COMPACT Eco
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