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超精度博曼X-RAY膜厚测试仪

发布时间:2014年02月08日

详细说明

美国博曼(Bowman)结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保*佳的信/躁比,从而降低检测下限。探测器分辨率极高,能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级,确保产品满足环保要求,帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型:经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域,即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品,大舱门使样品更易放入。
可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U)  原子序 22 – 92 
准直器:固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
电脑系统:DELL品牌电脑,17寸液晶显示器,惠普彩色打印机
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能
检测五金电镀,线路板,半导体,电子元件,镀层厚度
 
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