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膜厚仪高端型X-RAY精工膜厚仪

发布时间:2014年01月07日

详细说明

轻巧的设计,半开放式测试算,可容纳大件的PCB产品,功能强大,可配合激光自动对焦,全方位自动样品台等功能使用。适合中小工件及PCB等产品行业。
美国博曼(Bowman) 更配备了半导体电子冷却检测器,令分辩率数倍提高,可测量非常薄的镀层,满足于半导体电子工业的应用。

特点详细介绍:
  1.可测量0.01um-300um的镀层。
  2.可做各种镀层(多层、合金、多层鎳)的精密测量。
  3.除平板形外,还可测量圆形、棒形(细线)等各种形状。
  4.可制作非破坏性膜厚仪的标准板。
  5.该电镀膜厚检测仪可检查非破坏式膜厚仪的测量精度。
  6.可高精度测量其他方式不易测量的三层以上的镀层。
  7.可对测量数据进行统计处理,以及和逐级进行共同管理。
  8.标准板校正值的计算和设定可自动进行,非常简单。
  9.有微处理器来进行计算、储存、思考。
  10.本膜厚仪采用全对话是操作,因此,只要依据测量条件来进行设定就可测量情况,非常简单。
  11.*多可设定四层镀层,而每一层均可进行统计处理。例如:测量条件、平均值、*大值、*小值、上下限值、直方圆均可进行计算并可有列印机印出,制作测量报告很容易。
  12.每种镀层所需的电解液、敏感度及搅动标准的选择,均可由电镀膜厚检测仪的微处理器自动判断、设定。
  13.测量数据可由通讯网路来传輸,所以能和主机共同进行数据管理。
  14.由于分解速度差距分得很细,因此可缩短测量时间。
  15.可分离测量铜(合金)上的锡(合金)镀层间的扩散(合金)层。
  16.由于可储存64个不同的测量情况,所以有相同的测量情况时,就不必再进行设定。每个测条件可储存9999个数据。

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