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X荧光镀层膜厚仪

发布时间:05月16日

详细说明

美国博曼(Bowman)X荧光镀层测厚仪,精度高、稳定性好,强大的数据统计、处理功能,测量范围宽,NIST认证的标准片,全球服务及支持

X射线激发系统:上照式X射线光学系统,下照式X射线光学系统(型号可选)
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W、Mo、Ag等
装备有安全防射线光闸
次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
准直器程控交换系统:*多可同时装配6种规格的准直器
多种规格尺寸准直器任选:
-圆形,如4、6、8、12、20 mil等
-矩形,如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
XYZ三轴控制方式:多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
样品观察系统:高分辨彩色CCD观察系统,标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
激光自动对焦功能
可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
测厚范围:可测定厚度范围:取决于您的具体应用。
基本分析:采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
样品种类:镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
可检测元素范围:Ti22 – U92;可同时测定5层/15种元素/共存元素校正;贵金属检测,如Au karat评价;材料和合金元素分析;材料鉴别和分类检测;液体样品分析,如镀液中的金属元素含量;多达4个样品的光谱同时显示和比较;元素光谱定性分析
调整和校正:系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移
样品台程控:设定测量点,连续多点测量,测量位置预览(图表显示)
统计计算:平均值、标准偏差、相对标准偏差、*大值、*小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图;数据分组、X-bar/R图表、直方图;数据库存储功能
任选软件:统计报告编辑器允许用户自定义多媒体报告书
系统安全监测:Z轴保护传感器;样品室门开闭传感器

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