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X射线电镀膜厚仪

发布时间:05月16日

详细说明

美国博曼(Bowman)X-射线荧光分析测厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能优越,而且价钱超值.,分析镀层厚度和元素成色同时进行,只需数秒钟便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.。轻巧的样品室,适合不同大小的样品,功能实用,准确性高,是五金电镀,首饰,端子等行业的首选。可测量各类金属层、合金层厚度,附带功能:合金成份分析,电镀液成份分析,中文简体、繁体、英文操作系统。
美国博曼(Bowman) :为您尽可能节省成本,是进口荧光分析仪*实惠的产品,功能使用,准确性特高,是五金、首饰、端子等行业的首选。
安全性能:通过美国PTB安全验证,符合美国*高安全法规标准。
可测元素范围:钛(Ti) – 铀(U)
可测量厚度范围
22-25,0.1-0.8μm
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm
准直器:0.1mm 0.3mm 0.1mm×0.3mm 。
可选四个组合:0.1mm , 0.2mm , 0.3mm , 0.4mm
50um , 75um×200um , 150um×300um , 300um
特别订造
配0.3mm或0.5mm 。
自动测量功能:编程测量,自定测量
修正测量功能:底材修正,已知样品修正
综合性能:镀层分析 定性分析 定量分析 镀液分析
镀层分析:可分析三层厚度,独有的FP分析软件,真正做到无厚度标准片亦能进行准确测量(需要配合纯材料),为您节省购买标准片的成本。完全超越其他品牌的FP软件。
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度。
统计功能:x管理图,x-R管理图,直方柱图,能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质。

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