公司名称：上海益朗仪器有限公司

XRF2000 測厚儀測量功能
 
1.      可測綠油厚度(在 Cu 或其他金屬中).方法是客戶自行準備二片不同厚度的板.先用其他方法把綠油厚度測出來.然後用此二片板做一檔案即可.誤差約15%.視乎不同厚度有所不同.
2.      可測板來料 Cu 厚度(選購件).會另配一探頭於機上.可測 0.5oz 至 4.0oz Cu 厚度. 誤差約5%.視乎不同厚度有所不同.
3.      可測溶液濃度(選購件).方法是先用 AA 機測溶液濃度.然後用此溶液做檔案即可.誤差約10%(視乎不同濃度有所不同).
4.      XRF2000 可測六層.誤差大約如下:*一層(5%).第二層(10%).第三層(15%).第四層(20%).第五層(25%).第六層為底材.誤差視乎不同原素不同厚度有所不同.
5.      以下是一些應用參考.
應用 XRF2000 可測範圍 
Au/Ni/Cu Au 0.5-120uinch. Ni 10-400uinch. 
Au/Ni-P/Cu Au 0.5-120uinch. Ni-P 10-400uinch. 
SnPb/Cu Sn 100% 40-3500uinch. Sn 60% 40-1500uinch. Sn 90% 40-2000uinch. 
Ag/Cu Ag 4-2000uinch. 
Au/XX Au 0.5-320uinch 
Sn/Ni/XX Sn 10-350uinch. Ni 10-500uinch. 
Sn/XX Sn 40-2500uinch.