公司名称:上海益朗仪器有限公司

联系人:丁成峰 先生 (工程师)

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供应compact 5型X射线荧光测厚仪

发布时间:10月30日

详细说明

X-RAY Compact 5为用户提供了一种效率高、低成本的镀层厚度测量及材料分析仪器,它适用于广泛的领域。高准确性、使用简单及适应性强也是其具有的重要特点。系统具有多种软件可以是用,使它能够适用于任何可能的应用。
技术特性  
设计优良,宽大的测试室  
无损  
单、双、三层镀层的厚度测量  
容易对焦  
镀层厚度和成分同时分析  
影视显微镜(V--25X)方便样板快速定位  
合金定量分析  
十字叉丝带点状试样指示器  
镀液定量分析  
用高效能X射线转换器使测量时间缩短  
现代化技术领先的软件  
安全性高,使用寿命长  
用外部打印格式和数据储存进行精密统计计算  
多层镀层系统的厚度和成分分析  

软件  
μ-MasteR 厚度测量值的评估软件  
Fun-MasteR 非标基本元素校准软件  
Element-MasteR 快速、简便的定性分析软件  
%-MasteR 可达8种元素的准确量化软件  
LiQuiD-MasteR 电镀液分析软件  
Data-MasteR 数据处理软件  
Report-MasteR 客户化的报告软件  

技术数据  
电源 :  110伏或230伏 60赫兹或50赫兹  
样件台:  100mm(长)×85mm(高)×60mm(深)  
仪器尺寸:  450mm(长)×400mm(高)×650mm(深)  
式样室:  60mm(长) ×350mm(高)×380mm(深)  
X-射线管:  带钨阳极的高功率管(空冷)  
X-射线源:  40千伏,电流*高1毫安  
辐射安全:  配合测试标准AnlageII,Abs.3 经总失败-安全系统PTB试验

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