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供应美国BOWMAN(博曼)X射线膜厚测试仪

发布时间:09月28日

详细说明

X射线测厚仪是基于射线通过物质时,透过的射线强度,随物质的厚度不同而改变的原理制成的非接触、透射式厚度测量装置。美国博曼BA100,博曼膜厚测试仪高分辨硅-PIN-接收器,配合快速信号处理系统能达到极高的精确度和非常低的检测限。只需短短数秒钟,所有从13号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等,测量厚度可以至微米(um),微英寸(u”),

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