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供应芯片破裂测试芯片强度测试

发布时间：09月15日

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1、*大试验力：100N/10kg、500N/50kg、
2、*小读值：0.01N/0.001kg、0.1N/0.01kg
3、位移速度:0.5~600mm/min
4、位移范围：150mm
5、*小位移显示值：0.001mm
6、*大测试空间：190mm(可根据客户要求加长)
7、外形尺寸：260mm×360mm×500mm
8、电源：交流单相220V 0.5A

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电话：0755-84716026
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手机：13480652859
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