公司名称：深圳市安达仪器仪表有限公司

X射线测厚仪标准校正片，建档标准片，校正标准片，X射线标准校正，美国Calmetrics膜厚仪标准片Calibration Standard： X射线测厚仪标准片 镀层标准片 膜厚片 测厚仪标准片 其专门为仪器大厂如Fischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生产制作标准样品。 适用于Fischer、Oxford、CMI、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等各厂牌X-ray（X射线测厚仪）、 β-ray（β射线测厚仪）、磁感式及涡电流等多种原理的各种规格与尺寸。 特色：标准片A2LA校正认证，质量精良，精度高、稳定性好 X-Ray、β-Ray、磁感式、涡电流式专用标准片 测厚仪标准片又名膜厚仪校准片或者薄膜片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的仪器标准化校准及建立测量分析档案。 X射线测厚仪标准片一般分为单镀层片，双镀层片、多镀层片、合金镀层片、化学镀层片。例如：单镀层：Ag/xx，双镀层：Au/Ni/xx， 三镀层：Au/Pd/Ni/xx，合金镀层：Sn-Pb/xx， 化学镀层：Ni-P/xx。（所有标准片都附有NIST证书） 我们可以根据客户不同的金属元素、镀层结构及镀层厚度等要求向美国工厂定做合格的标准片，并附有标准片厚度值NIST证书.