MJLD型吸收率和法向发射率测量装置
发布时间:12月15日
详细说明
MJLD型吸收率和法向发射率测量装置
产品介绍
MJLD型吸收率和法向发射率测量装置,主要用于测量材料的太阳吸收比和法向发射率。它是将吸收率测量装置和法向发射率测量装置合为一体,配有计算机和专用工作软件,实现自动测量的先进测量设备。本装置是由国防航天军工科技企业和航天著名专家研究员联合研制。是航天系统测量专家的智慧结晶。本设备是国内首创,填补国内测量材料太阳吸收比和法向发射率仪器的空白,同时在测量方法上有进一步的创新。
主要用途
测量材料表面的吸收和法向发射特性。
技术指标
吸收率
◆测量范围:0.0 2~0.9 9
◆工作温度范围:-30~80℃
◆测量不确定度:当αs>0.8 为±2.0%;当εn<0.2 为±4%;其余为2.5%
◆积分球直径:Φ150
◆光源高色温:220V300W
◆探测器:真空平面热电堆
◆工作波长:0.3 5~2.5μm
法向发射率
◆测量范围:0.0 5~0.9 9
◆工作温度范围:室温~100℃
◆测量不确定度:当εn>0.7 为±1.5%;当εn<0.2 为±5%;其余为2%
◆探测器:平面热电堆
◆峰值波长:8.4~11μm
北京蒙骏力达科技有限公司
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电 话:010-56236783
传 真:
手 机:13439500039
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邮 编:101113
网 址:
http://bjmjld.qy6.com.cn(
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