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供应SunScan冠层分析系统

发布时间:03月09日

详细说明

SunScan冠层分析系统 
用途:SunScan是一款简便的测量和分析冠层中入射和透射光合有效辐射(PAR)的系统,提供了关于影响田间作物生长的限制因素的有价值的信息,如叶面积指数(LAI)。SunScan不需要等待特殊的天气条件进行使用,可以在大多数光照条件下进行测量工作(但是*好是在接近中午的时候)。   特点: ·在植物冠层中测量入射和投射光量子(PAR); ·直接显示叶面积指数(LAI);  查看详情请点击:http://www.qudaotech.com/Item/Show.asp?m=111&d=3

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