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发布时间:05月05日

详细说明

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膜厚量测仪FE-300的特点
测试范围涵盖薄膜到厚膜
基于绝对反射率光谱分析膜厚
小型・低价,精度高
无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手
外观新颖,操作性提高
非线性最小二乘法,实现光学常数解析(n:折射率、k:消光系数)

对应膜种
○ 多层膜 ○ 折射率倾斜
○ 非干涉膜 ○ 超晶格结构

用途
○ 光学薄膜(ARfilm、ITO等)
○ FPD相关(ITO、PI、PC、CF等)



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