公司名称:深圳市金东霖科技有限公司

联系人:张丹 女士 (销售)

电话:075529371655

传真:075529371655

手机:13602568074

半导体BOWMAN X射线荧光美国膜厚测试仪

发布时间:2014年09月28日

详细说明

是一款全面强大的X射线荧光分析仪,能够检测各种大小的样品,满足镀层厚度测量和材料分析。
元素光谱定性分析:精度高、稳定性好.强大的数据统计、处理功能.
随着检测零件的微小化,对微区的高精度测量的需求日益增多。并且,配备有新开发的薄膜 FP 法软件,即使没有厚度标准物质也可进行多达5层10元素的多镀层和合金膜的测量,可对应更广泛的应用需求。

深圳市金东霖科技有限公司


联系人:张丹 女士 (销售)
电 话:075529371655
传 真:075529371655
手 机:13602568074
地 址:中国广东深圳市沙井镇北环大道110号综合大楼502室
邮 编:518000
网 址:http://zd990225.qy6.com.cn(加入收藏)