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扫描电镜测试_SEM,EDS检测_SEM分析
发布时间:2015年09月06日
详细说明
SEM EDS扫描电镜
是依据电子与物质的相互作用。当高能的入射电子轰击物质表面时,被激发的区域将产生二次电子、俄歇电子、特征x射线和连续谱X射线、背散射电子、透射电子,以及在可见、紫外、红外光区域产生的电磁辐射.
2. SEM EDS扫描电镜能谱应用
材料,粉体,矿物粒径大小,表面断面形貌分析, 填料分散状态复合材料结构, 材料晶型分析晶粒大小,材料物相分析。元素定性分析。
3.适用标准
GB/T 16594-2008微米级长度的扫描电镜测量方法通则
GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
4.送样要求
粉状样品1-5g之间,能把3-5mm直接样品填满即可。块状样品不能大于5mm宽,高度小于5mm.
联系人:周工18321012245;张工18321432694
QQ:2312070180
公司产品信息
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