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公司名称:深圳市华科智源科技有限公司
联系人:陈少龙 先生 (经理)
电话:
0755-23226816
传真:
手机:
18692779548
功率循环测试仪
发布时间:2023年07月21日
详细说明
华科智源-功率循环老化设备主要是针对IGBT/SIC的封装可靠性行进行实验,通过控制实验条件再现IGBT封装的主要两种失效方式:键合线失效和焊料层老化。实验的关键是控制结温的波动范围以及*高温度,得到不同条件下的实验寿命,从而得到IGBT的寿命。
公司产品信息
光耦测试仪
华科智源分立器件测试仪
半导体静态参数测试
便携式IGBT测试设备
cv曲线测试设备
晶体管图示仪
双脉冲测试系统
功率半导体测试设备
场效应管测试仪
SiC器件测试仪/设备/系统
大功率IGBT测试仪
三极管测试仪/设备/系统
igbt静态参数测试仪/设备
功率循环测试仪
大功率模块测试仪
STI5000维修 华科智源 美国STI晶体管图示仪维修维护 华科智源专
可控硅测试仪
IGBT测试系统
IGBT 静态参数测试仪
10us浪涌电流测试仪/测试设备
深圳市华科智源科技有限公司
联系人:陈少龙 先生 (经理)
电 话:0755-23226816
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手 机:18692779548
地 址:中国广东深圳市深圳市宝安区洲石路739号恒工业城C栋
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