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公司名称:深圳市华科智源科技有限公司
联系人:陈少龙 先生 (经理)
电话:
0755-23226816
传真:
手机:
18692779548
功率循环测试仪
发布时间:2023年07月21日
详细说明
华科智源-功率循环老化设备主要是针对IGBT/SIC的封装可靠性行进行实验,通过控制实验条件再现IGBT封装的主要两种失效方式:键合线失效和焊料层老化。实验的关键是控制结温的波动范围以及*高温度,得到不同条件下的实验寿命,从而得到IGBT的寿命。
公司产品信息
10us浪涌电流测试仪/测试设备
半导体器件测试仪
三极管测试仪/设备/系统
二极管静态参数测试仪
场效应管测试仪
igbt静态参数测试仪/设备
IGBT测试系统
功率半导体测试设备
功率器件静态参数测试仪
SiC器件测试仪/设备/系统
半导体静态参数测试
结电容测试仪
大功率静态参数测试仪
碳化硅器件测试仪
华科智源栅极电阻/电容测试仪
华科智源分立器件测试仪
大功率IGBT测试设备
晶体管图示仪
功率器件综合测试系统
STI5000/STI5300维修 美国STI晶体管图示仪维修维护
深圳市华科智源科技有限公司
联系人:陈少龙 先生 (经理)
电 话:0755-23226816
传 真:
手 机:18692779548
地 址:中国广东深圳市深圳市宝安区洲石路739号恒工业城C栋
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http://hustec.qy6.com.cn
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