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QFN48IC测试老化座 下压老化座 探针老化座

发布时间:2020年10月19日

详细说明

产品特性:
采用单扣/双扣式旋钮结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不偏移;
  压块结构合理,下压速度线性可控,下压力度平稳均衡,芯片管壳受力均匀保证安全;
  精确的定位槽、导向孔,确保IC定位精确;
整体采用高性能耐高温绝缘工程材料制作,可根据客户要求、满足24H/48H/72H老化测试测试电流*高可达10 A,电压220V/380V,可满足:湿度90%,及军工三温:- 45摄氏度/常温/+150度的温差等恶劣老化测试环境;
  探针的爪头呈凹圆弧型,有效承托锡球,既可以保证接触性能稳定又能保护锡球和焊盘外形;
双头探针或单头焊接式探针结构,保证探针和PCB板接触良好;
  探针更换方便,维修成本低;
*小可做到测试间距:
双头探针:Pitch=0.25mm
单头焊接:Pitch= 0.5 mm
可根据用户要求定做各种阵列的集成电路产品老化验证测试;Socket;
交货速度快 ,*快3天出货!工厂直销!品质保证!
产品用途:集成电路产品老化验证测试

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