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失效分析单项检测

发布时间:2020年09月27日

详细说明

俄歇电子能谱分析(AES)

X射线分析 (X-ray)

金相切片分析 (Metallographic)

SEM和EDS分析 (SEM&EDS)

激光共聚焦显微拉曼光谱分析 (Micro Raman spectroscopy)

X射线衍射分析(XRD)

显微傅里叶红外光谱分析 (FTIR)

声学扫描分析(C-SAM)

透视电子显微镜(TEM)

X射线荧光光谱分析(XRF)

染色分析 (Staining

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