失效分析单项检测
发布时间:2020年09月27日
详细说明
俄歇电子能谱分析(AES)
X射线分析 (X-ray)
金相切片分析 (Metallographic)
SEM和EDS分析 (SEM&EDS)
激光共聚焦显微拉曼光谱分析 (Micro Raman spectroscopy)
X射线衍射分析(XRD)
显微傅里叶红外光谱分析 (FTIR)
声学扫描分析(C-SAM)
透视电子显微镜(TEM)
X射线荧光光谱分析(XRF)
染色分析 (Staining
苏州华碧微科检测技术有限公司
联系人:杨浩 先生 (市场策划专员)
电 话:0512-6260-7604
传 真:
手 机:18951112068
地 址:中国江苏苏州市工业园区港田路99号16栋
邮 编:
网 址:
http://falab.qy6.com.cn(
加入收藏)