日本TESPRO先进探针半导体测试用无磁性双头针
发布时间:2020年04月24日
详细说明
半导体测试用无磁性双头针
规格一览表
品名
内管直径
(mm)
最小间距
(mm) 弹力(gf)@推荐行程
(mm) 全长
(mm) 内管长度
(mm) DUT侧针轴长度
(mm)
NMDW-026H/R-01 0.26 0.35
13.0@0.50
5.70
4.00
1.10
NMDW-030A/A-01 0.30 0.40 20.0@0.65 8.10 6.50 1.10
NMDW-030H/A-01
0.30 0.40 20.0@0.65 8.10 6.50 1.10
NMDW-040CAH/A-01N 0.40 0.50 18.0@0.75 5.70 4.00 1.10
NMDW-040AR/R-01 0.40 0.50 20.0@0.75 5.70 4.00 1.10
※规格变动不另行通知