金诺 GN401全自动ITO检测机 全自动手机外观检测机
发布时间:2019年07月08日
详细说明
全自动ITO检测机,备主要用于检测TFT-CELL及Module裸露电极区域线路异常(因制程和操作不当导致的划伤,从而引起的线路open或short等缺陷)和线路微划伤(ITO未划透,暂时可以通电),检测系统需采用微分干涉成像技术或其它可以识别线路微划伤(ITO未划透,暂时可以通电)的成像技术,并采用先进算法判定出缺陷,主要包括自动上料,产品搬送单元、AOI检测单元,自动下料单元等。
产品尺寸范围 3-17寸
最小缺陷尺寸 0.002mm
搬送精度 X±0.02mm Y±0.02mm
适用产品 TFT-CELL及Module裸露电极
节拍 6-12S
电压/功率 AC220V / 50HZ /10KVA
漏检率 ≤1%
过检率 ≤5%
空气源压力 0.5-0.7kgf/cm
洁净度 0.5u