激光干涉仪│手机面板摄像孔检测干涉仪
发布时间:2019年11月19日
详细说明
激光干涉仪原理和方法:
随着光通讯行业的飞速发展,特别是通讯行业手机、平板等对成像质量要求的不断提高,必须对手机面板摄像孔的光学玻璃的透射波前进行检测和分析。 光学玻璃的透射波前是指一个标准的波形(平面波、球面波等)被透射或反射后的波形,它主要用于光学成像的像质评价。随着透射光学系统(如手机平板等摄像系统等)的成像质量要求越来越高,迫切需要高精度的光学玻璃透射波前的检测手段。高精度的检测方法主要是用干涉法检测波前畸变。
激光干涉仪其工作原理是将待测手机平板放于干涉仪的参考平面镜和标准反射镜中间,从标准参考镜反射的光和标准反射镜的光相干涉,干涉条纹则反映了手机面板摄像孔透射波前的好坏。
技术参数
硬件部分
产品型号 SDI-635-10PV
产品名称 激光干涉仪
测试结构 斐索型立式结构
测试口径 有效口径Ф10mm
测试光源 半导体激光光源(波长635nm)
对准视场 ±0.5度
标准镜面形精度 λ/20
标准配件 1、激光干涉仪主机一台
2、10mm平面透射标准镜,λ/20
3、10mm平面透射反射镜,λ/20
4、手机面板测试平台(带XY固定)
5、移相控制器一台
6、移相干涉条纹分析软件一套
7、电脑、液晶显示器一套
设备重量 约16KG
电源 AC220V50HZ
软件部分
软件名称 移相算法
分析项目 透过波前PV值、RMS值、干涉条纹数
PV值测试重复性 ±0.039λ
条纹数测试精度 ±0.5条
测试时间 1.5秒
测试数据 可存EXC