3D测量 工业扫描仪 模具检测 高精度逆向设计
发布时间:2018年12月12日
详细说明
1.1 系统介绍
XTOM系统基于双目立体视觉原理,采用国际先进的外差式多频相移技术,实现非接触式的物体表面三维数据的细致、精确、快速获取。与传统的格雷码加相移方法相比,测量精度高、纹理细节清晰;与接触式单点测量的三坐标相比,测量效率高、点云密度大、易于数模比对,更适合大尺寸物体、复杂曲面及柔性表面的测量;与激光扫描相比,精度高、扫描速度快且抗干扰能力强,光源对人体安全无害。系统单次测量幅面可从30×30到1000×1000 mm2,结合全局自动拼接技术,可以实现几十米超大工件的快速高精度测量。系统广泛适用于各种有三维数据需求的行业,如汽车工业、航空航天工业、数码家电、文保文创及医学等领域。
系统主要由测量头、控制箱、标定板、标志点、计算机及检测分析软件等组成。
系统应用范围包括:
逆向设计:快速获取零部件的表面点云数据,建立三维数模,从而达到产品快速设计的目的。
产品检测:生产线产品质量控制和形位尺寸检测,特别适合复杂曲面的检测,可以检测机械加工的复杂零部件及铸件、锻件、冲压件、模具、注塑件、木制品等产品。
其它应用:文保文创领域的文物高精度全色彩数字化、虚拟修复及数字化展示;医学的牙齿及畸齿矫正、医学整容修复等。
1.2 系统特色
采用国际先进的外差式多频相移技术及蓝光扫描技术,具备更强的抗干扰能力和更高精度;
可方便的进行多种测量幅面的配置:32mm×24mm、64mm×48mm、128mm×96mm、200mm×150mm、400mm×300mm、800mm×600mm等;
基于多线程的高效运算,单次扫描时间为2~4秒,点云数量为130~900万,测量精度为0.008-0.03mm;
全自动拼接,支持标志点拼接、无标志的特征拼接及转台等多种拼接方式;
支持选区扫描,便于有针对性的进行高效扫描检测、提高后期数据处理效率;
可对深孔或深槽进行检测,支持单点探针式扫描以及单目小夹角扫描;
支持对彩色、黑色及高对比度表面的直接扫描;
在扫描得到物体三维形状的同时,还可以扫描得到并输出高像素的彩色纹理信息;
强大的数据后处理功能,具备点云去噪、融合、抽隙、对齐、三角化及孔洞修复等;
辅助分析工具非常丰富,具备点云测距、多种坐标变换、元素拟合、各种角度及尺寸分析功能 ;
具备多种数据输出接口:点云(ASC,PLY,WRL),三角形网格(STL),纹理贴图(OBJ)。
1.3应用案例
一、产品数字化
通过XTOM双目扫描系统,对鞋底模型进行扫描,得到三维数据,数据可进行逆向设计,3D打印等
二、产品三维测量
通过XTOM扫描获得试件的三维数据信息,通过XTOM系