公司名称：深圳市世纪天源仪器有限公司

离子迁移试验装置是一种依赖性试验设备 ，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压（BIAS VOLTAGE)，经过长时间的测试（1~1000小时）并观察线路是否有瞬间短路的现象发生（ION MIGRATION），并记录电阻值变化状况，故又叫做CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是OPEN/SHORT试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。