金属断裂原因分析
发布时间:2014年07月15日
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金属断裂原因分析
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效分析可分为整机失效分析和零部件残骸失效分析,也可按产品发展阶段、失效场合、分析目的进行失效分析。失效分析的工作程序通常分为明确要求,调查研究,分析失效机制和提出对策等阶段。失效分析的核心是失效机制的分析和揭示。失效机制是导致零件、元器件和材料失效的物理或化学过程。此过程的诱发因素有内部的和外部的。在研究失效机制时,通常先从外部诱发因素和失效表现形式入手,进而再研究较隐蔽的内在因素。在研究批量性失效规律时,常用数理统计方法,构成表示失效机制、失效方式或失效部位与失效频度、失效百分比或失效经济损失之间关系的排列图或帕雷托图,以找出必须首先解决的主要失效机制、方位和部位。任一产品或系统的构成都是有层次的,失效原因也具有层次性,如系统-单机-部件(组件)-零件(元件)-材料。上一层次的失效原因即是下一层次的失效现象。越是低层次的失效现象,就越是本质的失效原因。根据客户要求提供多种零部件的失效分析服务。测试项目开封检查、金相分析、X光无损检测、超声波检测、染色渗透检测开封检查试验目的:确定半导体元器件内部是否存在结构缺陷金相分析试验目的:有效、直观的检查焊点缺陷更多项目及详细信息,欢迎咨询!顺颂商祺!