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半导体器件测试仪

发布时间:2024年10月23日

详细说明

功能概述
3-1测试功能范围
该套测试设备主要可测试以下参数:
1.门极参数测试:VGT、IGT
2.维持电流测试:IH
3.阻断参数测试:本测试单元可用以测量晶闸管的VDRM、VRRM、IDRM、IRRM以及整流二极管的VRRM、IRRM等参数。
4.压降单元
本测试单元用来测量晶闸管、整流管的VTM、ITM、VFM、IFM等参数。
5、电压上升率参数测试:dv/dt
6、擎住电流IL
7、门极电阻:适合门极触发电压在0.95V以上器件测试
3-2、测试方法和测试准则及原理满足 IEC 60747-6-2000 中关于晶闸管测试的具体规定。

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