金相分析,显微分析,失效分析
发布时间:2023年03月14日
详细说明
显微分析设备
扫描电子显微镜(SEM),X射线能量色散谱仪(EDS),X射线波长色散谱仪(WDS),激光共聚焦扫描显微镜(LSCM),原子力显微镜(AFM),俄歇电子能谱仪(AES),X射线光电子能谱仪(XPS),透射电子显微镜(TEM),相移干涉仪(PSI),扫描探针显微镜(SPM),光学显微镜(OM)
主要分析项目
表面微观形貌分析
表面污染物分析
微区成分分析
相结构分析
织构分析
金相组织分析
镀层厚度测试
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