YT4200-P3分体铁基涂层测厚仪
发布时间:2019年06月10日
详细说明
产品型号 YT4200-P3
产品名称 分体铁基涂层测厚仪
符合标准 ASTM B499,ASTM D1400;
ISO 2178,ISO 2360,ISO 2808;
GB/T 4956/4957,JB/T 8393
基体 Fe
探头形式 分体式
分辨率 0.1/1μm
测量范围 0~1250μm
测量精度 零点校正:±(3%H+1)μm;
两点校正:±(1~3%H+1.5)μm;
注:H为样品厚度
最小测量尺寸 10×10mm
最小测量厚度 磁性:0.2mm
最小曲率 凸面半径5mm;凹面半径10mm
显示单位 μm
存储容量 /
统计功能 /
蓝牙 /
电源 2节5号电池(AA碱性电池或镍氢充电电池);
尺寸 102×66×24mm
重量 99g(含电池)
品质软件 /
工作温度 0~40oC(10~90%RH无凝露)
储存温度 -10~50oC
标准附件 基体1块(铁基体),腕带,校准试片
可选附件 校准试片(12μm,25μm)
注: 技术参数仅为参考,以实际销售产品为准
北京五苏信息科学研究院
联系人:郭先生 先生 (销售经理)
电 话:010-69291666
传 真:010-69208459
手 机:13552597840
地 址:中国北京大兴区大兴区兴华大街波普中心2号楼1815
邮 编:103600
网 址:
http://bjwusu.qy6.com.cn(
加入收藏)